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PRODUCT CLASSIFICATION

半導體材料測試

體微缺陷測試霍爾電阻遷移率光伏光致發光深能級瞬態譜測試橢偏拉曼AFM 半導體多功能測試 CV測試系統集成測試儀器租賃

SIRM紅外體微缺陷分析儀

SIRM是非接觸和非破壞型光學檢測設備，對體微缺陷，如氧化物和金屬沉淀，位錯、堆垛層錯，體材料中的滑線和空隙等進行測試。這個技術也可對GaAs 和 InP等復合材料進行測試。

更新時間：2025-05-07

產品型號：

瀏覽量：851
LST體微缺陷測試設備

LST是檢測半導體材料的體微缺陷有力工具，通過CCD相機，對入射光在樣品邊沿的散射進行掃描，獲得體微缺陷分布信息。

更新時間：2025-05-07

產品型號：

瀏覽量：673
非接觸遷移率測試系統

LEIModel1605，是非接觸遷移率測試系統，可對各種半導體材料和器件結構進行測試。無需制樣，消除了樣品制備引起的遷移率變化。

更新時間：2025-05-07

產品型號：LEIModel1605

瀏覽量：573
非接觸方塊電阻測試系統

LEI88 是針對科研類客戶開發的產品，具備非接觸快速測試方塊電阻和電導率功能。

更新時間：2025-05-07

產品型號：LEI88

瀏覽量：598
非接觸Hall和方塊電阻測試系統

非接觸Hal和方塊電陽測試系統，可對GaAs,InP,InAs,GaN,AIN,Si,SiC等各種半導體材料設計的HEMTs,pHEMTs,HBTs,FETs器件結構進行測試。

更新時間：2025-05-07

產品型號：

瀏覽量：682
SRP 擴展電阻測試

SRP 測試系統，采用擴展電阻率技術(SRP)，對載流子濃度和電阻率隨深度的變化做快速測試。

更新時間：2025-05-07

產品型號：

瀏覽量：1211

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