WT-1200A 單點式少子壽命測試系統

產品簡介
WT-1200A 是單點式少子壽命測試系統，具備無接觸等優點。

產品型號：

更新時間：2025-09-16

廠商性質：生產廠家

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半導體材料測試

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Capability:

QSS μ-PCD微波反射光電導衰減測試
Effective Lifetime -τ_eff有效少子壽命
Implied Voltage-V_oc贗電壓
Emitter Saturation Current J_o 發射級飽和電流

上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續努力，不斷提升市場地位和影響力。

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