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當前位置:首頁產品中心光譜儀Andor光譜儀SR-750超高分辨率光譜儀

SR-750超高分辨率光譜儀

產品簡介

SR-750可以配用多種附件,拓展應用領域,在透射/反射/吸收光譜、Raman光譜、熒光光譜、激光誘導解離光譜等實驗中,提供優質的系統解決方案。

產品型號:
更新時間:2025-09-17
廠商性質:生產廠家
訪問量:70
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結合創新型的光學器件設計,SR-750 配合Andor 公司的各型高性能光譜專用CCD/ICCD,可以非常方便進行空間多點光譜的同時采集與測量。SR-750 可以配用多種附件,拓展應用領域, 在透射/ 反射/ 吸收光譜、Raman 光譜、熒光光譜、激光誘導解離光譜等實驗中,提供*佳的系統解決方案。
SR-750超高分辨率光譜儀

SR-750超高分辨率光譜儀主要特點:
• 分辨率*高可達0.02nm
• 多路光譜優化光路,低串擾,高密度多路光譜探測
• 雙探測器出口選項,可安裝不同類型探測器滿足不同實驗需求
• 光學元件鍍銀選項,保證紅外探測器更好的性能
SR-750超高分辨率光譜儀

SR-750超高分辨率光譜儀技術參數:

型號Shamrock 750
焦距長度750mm
通光孔徑(F/#)F/9.8
焦平面尺寸30mm×14mm
光譜分辨率 @1200l/mm,500nm0.04nm
光柵塔輪三光柵
自動聚焦
TruResTM 分辨率增強選項
波長精度0.03nm
波長重復精度10pm

不同光柵對應的分辨率及覆蓋帶寬:

SR-750超高分辨率光譜儀

SR-750超高分辨率光譜儀 

綠色: 無限制自由使用區域;黃色: 可能對系統分辨率產生影響; 紅色: 對系統分辨率有影響

光柵效率曲線

SR-750超高分辨率光譜儀簡單四步選擇光譜儀配置:
SR-750超高分辨率光譜儀

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